标题：冲击试样缺口投影仪-U形V形缺口投影仪-CST-50夏比投影仪
关键词：冲击试样缺口投影仪

描述：冲击试样缺口投影仪（夏比投影仪）是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T229-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。
1.投影屏直径：180mm
2.方工作台尺寸：110×125mm
3.圆工作台直径：90mm
4.工作台玻璃直径：70mm
5.工作台行程（纵向）：±10mm
6.工作台行程（横向）：±10mm
7.工作台行程（升降）：±12mm（无刻度）
8..工作台转动范围：0~360°（无刻度）
9.仪器放大倍率：50X
10.物镜放大倍率：2.5X
11.投影物镜放大倍率：20X
12.光源（卤钨灯）：12V；100W
13.电源：220V；50Hz
14.外形尺寸：；515×224×603mm（长×宽×高）
15.重量：约18Kg

涉及标准：GB/T229-2007《金属夏比冲击试验方法》

标准下载地址：http://www.syjpj.cn/news/xiazai/41.html

济南一恒试验仪器有限公司

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